Analysis of semiconductor wafer defect sampling with np charts in R.

Analysis of fabrication facility produces wafers using np control charts with qcc in R

This document explained the Catagorical Data Analysis

HW2

Modelo de Regresión Lineal Múltiple: Caso C&A

Visualisasi data merupakan salah satu metode yang efektif untuk mengeksplorasi dan memahami karakteristik data. Dengan menggunakan berbagai jenis grafik, pola distribusi dan tren kemiskinan dapat terlihat dengan lebih jelas. Selain itu, pendekatan spasial juga digunakan untuk memvisualisasikan distribusi kemiskinan secara geografis pada wilayah Provinsi Jawa Barat. Penelitian ini bertujuan untuk melakukan eksplorasi data kemiskinan melalui visualisasi data numerik, kategorik, serta pemetaan spasial.